Фрезерное дело

Обработанная поверхность

Обработанная поверхность детали 4 сравнивается с поверхностью образца-эталона 6 путем их одновременного рассматривания через окуляр 8, поле зрения которого разделено на две половины. Поэтому рядом с изображением поверхности эталона располагается изображение поверхности контролируемой детали. Это осуществляется при помощи призмы 2, которая распределяет лучи света от лампочки / по двум направлениям. Часть лучей проходит
через призму 2 и диафрагму 5 на поверхность эталона и, отразившись от нее, возвращается в призму 2 и затем, проходя через объектив 7 и окуляр 8, дает изображение поверхности эталона.
Другая часть лучей от лампочки / направляется призмой 2 вниз, проходит через диафрагму 3 и, отразившись от контролируемой поверхности 4, вновь возвращается в призму 2, проходит через объектив 7 и окуляр 8 и дает на второй половине окуляра изображение микронеровностей на контролируемой поверхности. Микроскопы сравнения можно применять для оценки шероховатости до 9—10-го классов включительно.
В таком микроскопе можно легко сменить образцовую поверхность на поверхность другого образца с иной степенью шероховатости и подобрать для сравнения более или менее близкие по свойствам поверхности, вызывающие при сравнении одинаковое впечатление.
Большое влияние на результаты сравнения могут оказать выбор участка на контролируемой поверхности и поверхности образца и условия их освещения (например, падение лучей света вдоль или под некоторым углом к штрихам обработки и т. д.). Поэтому для подобных относительных методов контроля шероховатости необходимо подбирать образцы-эталоны, изготовленные по определенной технологии и имеющие форму поверхности и материал, совпадающие или достаточно близкие с формой и материалом контролируемого инструмента.